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對于復雜地質樣品，電子多晶X射線衍射儀（XRD）是一種非常有效的分離和鑒定工具。以下是使用XRD對復雜地質樣品進行有效分離和鑒定的一般步驟：一、樣品準備1、粉碎與研磨首先將復雜地質樣品粉碎成細顆粒，通常需要使用研缽和研杵，或者球磨機等設備。粉碎后的顆粒尺寸應符合XRD分析的要求，一般在微米級別，這樣能保證樣品具有足夠的表面積，使X射線能夠充分照射到晶體的各個面，獲得準確的衍射信息。2、篩分與提純（可選）根據樣品的性質和研究目的，可能需要進行篩分以分離出特定粒徑范圍的顆粒。如果...

BiasMDP技術搭配MDPmap設備，開啟表面鈍化檢測新方式在能源產業蓬勃發(fā)展的當下，追求更高效率的太陽能電池成為行業核心目標。而這其中，表面鈍化技術的優(yōu)劣起著決定性作用。要深入理解和優(yōu)化表面鈍化，精準測量固定電荷和界面缺陷密度這兩個關鍵參數至關重要。為大家介紹一項行業變革的創新技術——基于微波探測光電導衰減法（MDP）的BiasMDP技術，這一技術在實驗測量環(huán)節(jié)，FreibergInstruments公司的MDPmap型號設備發(fā)揮了重要作用。在BiasMDP技術出現之前，...

MDP技術-硅錠質量評估的“透視眼”在光伏生產鏈中，硅錠材料質量評估對晶體生長者優(yōu)化結晶過程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術則為早期質量評估提供了新途徑。FreibergInstruments相關技術或設備助力實現用MDP技術在硅磚四個側面以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準的優(yōu)勢。MDP技術能夠對晶錠的空間分辨載流子壽命和電阻率進行測量，其測量過程為非接觸式，可在生產...

由來自國家食品藥品監(jiān)督管理局相關重點實驗室、中國藥科大學、中國科學院上海藥物研究所等機構的眾多科研人員組成的團隊，結合體外溶出實驗與三維X射線斷層掃描結構表征的研究方法，開展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關研究。文章中，研究人員運用Bruker納米級三維X射線顯微鏡（NanoCT）SkyScan2214剖析了藥物結構與釋放動力學關系，為口服控釋仿制藥研發(fā)和質量控制提供了重要依據。該文章于2024年9月21日成功發(fā)表于AsianJournalofPharmaceuticalScien...

lexsyg釋光探測器||在地質測年領域應用分享突破測年極限！紫光激發(fā)發(fā)光技術新進展，lexsyg系統助力古老沉積物測年研究這篇由牛津大學與伍倫貢大學聯合團隊發(fā)表的研究，為石英測年技術帶來了重要突破。團隊使用德國FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發(fā)光測量系統，對紫色受激發(fā)光（VSL）測年法展開系統性驗證，揭示了該技術在突破傳統測年上限中的潛力與挑戰(zhàn)。創新實驗設計研究選取歐洲4處考古遺址樣本（年代跨度40-900ka），通過對...

在半導體材料的研究與應用中，缺陷表征至關重要。特別是在中子嬗變摻雜（NTD）硅的處理過程中，了解其輻射誘導缺陷對于優(yōu)化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測光致電流瞬態(tài)光譜法（MDPICTS）技術（如圖1），為這一領域帶來了新的突破，展現出諸多傳統技術難以企及的優(yōu)點。NTD硅，因能實現極低的電阻率變化，在大面積輻射探測器制造中占據重要地位。然而，摻雜后的硅晶體因輻射產生大量缺陷，實際電阻率遠超預期，退火成為必要環(huán)節(jié)。在此過程中，準...

對分布函數（PairDistributionFunction,PDF）分析是一種描述材料中原子之間距離分布的方法，它可以給出原子間距離分布或者相距r的原子對的“概率”。對于長程有序的結晶材料，根據布拉格衍射幾何，可以很容易得到材料對應的晶體結構信息，而對于短程有序或者無序的材料，比如非晶、液體等，布拉格衍射給出的信息非常有限（往往是很寬的漫散峰，甚至沒有峰），這時借助PDF分析可以得到更多的細節(jié)信息。傳統上，PDF測試只能在大型落地式衍射儀上進行，臺式衍射儀通常用于簡單的測試...

電子順磁共振波譜儀的養護細節(jié)涉及環(huán)境條件、電源管理、定期檢查與維護、樣品處理與存放以及軟件維護等多個方面。只有做好這些養護工作，才能確保儀器的正常運行和延長使用壽命。以下是電子順磁共振波譜儀的養護細節(jié)：1.環(huán)境條件-溫度與濕度：儀器應放置在溫度、濕度相對穩(wěn)定的環(huán)境中，一般溫度保持在15℃-30℃，相對濕度在20%-80%為宜。避免將儀器放置在潮濕、高溫或陽光直射的地方，以免影響儀器的性能和壽命。例如，在潮濕的環(huán)境中，儀器內部的電子元件可能會受潮生銹，導致電路故障；而高溫環(huán)境可...